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Librería CMM
Metrología Dimensional
D
imensional Metrology
McGraw-Hill. Carlos González, Ramón Zeleny

En los últimos 30 años, a nivel internacional, la metrología dimensional ha experimentado profundas transformaciones con la aparición de instrumentos electrónicos y la introducción de computadoras, que facilitan el manejo de los datos obtenidos así como la toma de mediciones que anteriormente duraba mucho tiempo. Este libro presenta estos avances y describe los equipos que han sido desarrollados en años recientes y que actualmente se utilizan en diversas industrias para resolver complejos problemas de medición. Entre otros se mencionan los instrumentos de medición por coordenadas, rugosímetros, comparadores ópticos, medidores de redondez, controno y dureza, además de mediciones con láser y microscopios; incluye también secciones sobre la medición de roscas exteriores y la medición de engranes. Esta obra es un complemento adecuado a los temas básicos incluídos en el libro Metrología.

    Incluye los siguientes capitulos:
  • Instrumentos Electrodigitales
    • Introducción
    • Sensores de Posición
    • Funciones Básicas de los Instrumentos Electrodigitales de Medición
    • Sistema M-SPC
    • Cuidados que Requieren los Instrumentos Electrodigitales de Medición
    • Otras Características y Aplicaciones
    • Código IP
  • Bloques Patrón
    • La Historia del Bloque Patrón
    • Requerimientos para los Bloques Patrón
    • Precauciones Durante la Utilización de Bloques Patrón
    • Procedimiento de Adherencia
    • Unión de Bloques Patrón Grandes
    • Cuidados que Deben Tenerse con los Bloques Después de Usarlos
    • Factores de Error que Afectan los Bloques Patrón
    • Forma y Características de los Bloques Patrón
    • Inspección Periódica
    • Accesorios para Bloques Patrón
    • Uso de los Bloques Patrón
    • Bloques Patrón de Cerámica
  • Superficies Planas de Referencia
    • Historia
    • Mesas de Granito
  • Sistemas de Ajustes y Tolerancias
    • Introducción
    • Definición de Ajuste y Tolerancia
    • Formas de Expresión de Tolerancias
    • Condiciones de Material
    • Determinación del Tipo de Ajuste
    • El Sistema Americano
    • Interpretación de Límites de Tamaño
    • Calibres de Dimensión Fija
    • Perno Patrón Cilíndrico
    • Calibres Especiales
    • Normas de Referencia
  • Comparadores Ópticos
    • Introducción
    • Clasificación
    • Sistemas de Iluminación
    • Medición Lineal
    • Medición Angular
    • Uso de Plantillas
    • Lentes de Proyección
    • Detector de Bordes
    • Microprocesador
  • Metrología Superficial y Rugosidad
    • Introducción
    • Las Curvas P y R
    • Definición de Ra
    • Definición de Rz
    • Definición de Ry
    • Símbolos para la Dirección de Marcado
    • Recomendaciones Prácticas para Medir la Rugosidad de una Superficie
    • Rugosímetros
    • Definición de Otros Parámetros
    • Otros Rugosímetros
    • Normas de Referencia
  • Medición de Roscas Externas
    • Definiciones
    • Designación del Tipo de Rosca
    • Medición del Diámetro de Paso con Micrómetro
    • Medición del Diámetro de Paso por el Método de los Tres Alambres
    • Medición de Roscas con el Comparador Óptico y el Microscopio de Taller
    • Medición de Partes Roscadas con Calibres Pasa-No Pasa
    • Normas de Referencia
  • Dureza y Medición de Dureza
    • Introducción
    • Dureza Brinell
    • Dureza Rockwell y Rockwell Superficial
    • Conversión Entre Diferentes Escalas de Dureza
    • Dureza Vickers
    • Dureza Knoop
    • Recomendaciones para el Uso Adecuado de Patrones de Dureza
    • Dureza Shore
  • Principios de las Máquinas de Medición por Coordenadas (CMM)
    • Prefacio
    • Introducción
    • Historia y Desarrollo de las CMM
    • Ventajas y Economía de las CMM
    • Configuración del Sistema de las CMM
    • Funciones y Características de las CMM
    • Componentes de las CMM
    • Exactitud de Medición de las CMM
    • Unidades de Procesamiento de Datos para Sistemas CMM
    • Palpadores y Accessorios para la CMM
    • Condiciones Ambientales
  • Microscopios
    • Introducción
    • Definiciones y Términos Comunes en Microscopía
    • Principios Ópticos
    • Microscopio para Inspección de Microcomponentes
    • Objetivos con Distancia de Trabajo Grande
    • Microscopio de Taller
    • Estereoscopía y Estereomicroscopios
    • Desarrollo de los Microscopios
  • Medición con Haz Láser
    • Introducción
    • Micrómetro Láser (LSM)
    • Explicación de Funciones
    • Glosario
    • Precauciones de Seguridad para la Operación de la Unidad de Mecición del LSM
    • Medición del Espesor de Productos Laminados
    • Medición del Diámetro Interior
    • Láser Indicativo (LI)
    • Medición con el Láser Indicativo (LI)
    • Precauciones de Seguridad para la Operación del Láser Indicativo
  • La Medición de Redondez (Circularidad), Concentricidad (Coaxialidad) y Cilindricidad
    • Definiciones
    • Círculos de Referencia para la Evaluación de la Redondez
    • Medición de Redondez
    • Medición de Concentricidad
    • Medición de Coaxialidad
    • Medición de Cilindricidad
  • La Medición de Perfil (Contorno)
    • Definiciones
    • Medición de Contorno
  • Medición de Engranes
    • Engranes Rectos
    • Engranes Helicoidales
    • Engranes de Referencia
  • Ejercicios
    • Instrumentos Electrodigitales
    • Bloques Patrón
    • Superficies Planas de Referencia
    • Sistemas de Ajustes y Tolerancias
    • Comparadores Ópticos
    • Metrología Superficial (Rugosidad)

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